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大型集成电路故障信号监测方法探讨

更新时间:2015-10-12

【摘要】大规模集成电路通常是指那些逻辑门在100-9999之间,在一个芯片上就集成了1000个以上电子元件的大型集成电路,所谓的集成电路的故障检测就是针对于电路的逻辑功能的缺陷来开展的,因此判断一个元件是否存在故障就是通过判断该元件的逻辑功能能够完成设计的要求。在组合电路中用穷拳测试肯定能够查出逻辑错误,但是测试效率太低,经过人们的反复研究和分析,集成电路的故障可以成功的使用固定性故障模型来确定缺陷与故障的对应关系,即通过假设外部端口的逻辑故障固定为“1”或“0”,实践证明这种检测办法能够查出大多数的故障。下面则具体分析其检测方法。

【关键词】

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